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El Instituto Tecnológico de Informática presentó en SIMO la primera patente mundial en Inspección Industrial en 3D.

Se trata de un prototipo único en el mundo de Inspección Industrial mediante visión artificial

Por Redacción RFID-Spain.com
Actualizado el 13 de octubre, 2010 - 03.38hs.

El Instituto Tecnológico de Informática (ITI), ubicado en la Ciudad Politécnica de la Innovación, presentó en el encuentro internacional SIMO la primera patente mundial en Inspección Industrial en 3D, denominada ITI I3D.

 Se trata de un prototipo único en el mundo de Inspección Industrial mediante Visión Artificial, -proyecto financiado por el Impiva- con el que se puede extraer toda la información visual de un objeto en caída libre a través de un poliedro de 16 caras. Esta información puede ser útil para respaldar la competitividad en cualquier sector industrial, según apuntan sus artífices, han señalado los responsables de la iniciativa en un comunicado.

 
El sistema capta la representación de objetos tridimensionales de formas y tamaños variables, teniendo en cuenta dimensiones, ángulos y texturas, a través de las imágenes del objeto en caída libre El director científico de ITI, Juan Carlos Pérez, ha explicado que se presenta "una nueva tecnología, una herramienta cotidiana que puede ayudar a las empresas a impulsar su competitividad". 

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